LF0P8_Au-Si_15, Lprobe fast, AFM probe (coating Au/Si, tip 15 µm, Vmicro)

特長

新しい MEMS 技術
角度設計を施した高プロファイル探針
探針の視認性により正確なアプローチを実現
安全に取り扱える垂直側壁チップ

用途

液中または大気中での細胞・細菌・組織イメージング
高速 PeakForce Tapping^TM モード
高速 WaveMode^TM モード
ポリマーおよび複合材料の高分解能イメージング

LprobeFast0.8 Au-Si

350.00 €

QuantityPrice

10 AFM probes 1 box of 10 probes unit price 35.00 € 350.00 €

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Order code: LF0P8_Au-Si_15_GB10

Packaging: GB10

仕様

3D schematic of Vmicro LF0P8 Au-Si 15 AFM probe for WaveMode-compatible AFM measurements

Parameter	Unit	Nominal	Range
Frequency	kHz	400.0	200-600
Spring constant	N/m	0.8	0.2-3
Tip height H_t	µm	15.0	05-60
Tip apex radius	nm	7.0	2-10
Tip side angle θ	°	22.0	+/-0.5°
Tip-cantilever angle α	°	112.0	+/-0.5°
Cantilever length L_c	µm	40.0	+/-1
Cantilever width W_c	µm	10.0	+/-1
Cantilever thickness T_c	µm	0.65	+/-0.15
Cantilever backside coating	Au
Tip-side coating	Uncoated
Tip and cantilever material	p-doped Silicon 0.01-0.02 ohm-cm
Chip dimensions	mm	3.4x1.6x0.4

カンチレバーと探針の詳細

SEM full-view image of Vmicro LF0P8 Au-Si 15 AFM probe showing complete probe geometry

傾斜探針設計 AFM ヘッドの取り付け角度を補正し、さまざまな試料表面で正確なデータ取得を可能にします。
探針高さ 15 µm 深い領域やアクセスしにくい試料領域のイメージングを可能にします。
探針側壁角 22° 探針と試料のコンボリューションを抑え、より正確な形状測定を実現します。
探針先端半径 7 nm 高度な AFM アプリケーションに信頼性の高い分解能を提供します。