特長
- 10° 傾斜補正プラットフォームカンチレバー
- 試料に平行な 20 × 20 µm フラットエンド
用途
- マイクロスフェアの接着
- 圧力制御測定のための均一な角度補正接触
- 細胞接着
仕様
| Parameter | Unit | Nominal | Range |
|---|---|---|---|
| Frequency | kHz | 300.0 | 200-400 |
| Spring constant | N/m | 40.0 | 20-60 |
| Tip height Ht | µm | 5.0 | nan |
| Tip apex radius | nm | — | +/-5% |
| Tip side angle θ | ° | 180.0 | +/-0.5° |
| Tip-cantilever angle α | ° | 101.0 | +/-0.5° |
| Cantilever length Lc | µm | 150.0 | +/-1 |
| Cantilever width Wc | µm | 20.0 | +/-1 |
| Cantilever thickness Tc | µm | 5.4 | +/-0.15 |
| Cantilever backside coating | Au | ||
| Tip-side coating | Uncoated | ||
| Tip and cantilever material | p-doped Silicon 0.01-0.02 ohm-cm | ||
| Chip dimensions | mm | 3.4x1.6x0.4 | |
カンチレバーと探針の詳細
- 傾斜補正フラットエンドプラットフォーム 市販の AFM 探針ホルダーに取り付けた際、接触面が試料と平行になるよう設計されています。
- 20 × 20 µm の平坦面 力測定およびコロイド探針用途に制御された接触面積を提供します。
- シャフト高さ 5 µm 構造化された試料やアクセスしにくい試料の測定に必要なクリアランスを確保します。
- 安定したシリコンカンチレバー 再現性の高い機械特性と明確なプラットフォーム形状を両立します。