특징
- 세포 이미징에 적합한 긴 팁
- 프로브 엔지니어링의 가능성을 여는 새로운 MEMS 기술
- 콘 각도와 팁-캔틸레버 각도를 설계에 따라 자유롭게 선택
- 10° 프로브 홀더에서 대칭을 이루는 팁
- 수중 스퀴즈 필름 감쇠가 무시할 수준: 표면 근처에서도 주파수와 Q 값이 감소하지 않음
응용 분야
- 액체 또는 공기 중 세포, 박테리아 및 조직 이미징
- PeakForce TappingTM 모드
- ScanAsystTM 모드
- 폴리머 및 복합재료의 고해상도 이미징
사양
| Parameter | Unit | Nominal | Range |
|---|---|---|---|
| Frequency | kHz | 40.0 | 20-100 |
| Spring constant | N/m | 0.1 | 0.05-0.5 |
| Tip height Ht | µm | 30.0 | 15-50 |
| Tip apex radius | nm | 7.0 | 2-10 |
| Tip side angle θ | ° | 22.0 | +/-0.5° |
| Tip-cantilever angle α | ° | 112.0 | +/-0.5° |
| Cantilever length Lc | µm | 80.0 | +/-1 |
| Cantilever width Wc | µm | 20.0 | +/-1 |
| Cantilever thickness Tc | µm | 0.5 | +/-0.15 |
| Cantilever backside coating | Au | ||
| Tip-side coating | Uncoated | ||
| Tip and cantilever material | p-doped Silicon 0.01-0.02 ohm-cm | ||
| Chip dimensions | mm | 3.4x1.6x0.4 | |
캔틸레버 및 팁 세부 정보
- 기울어진 팁 설계 AFM 헤드의 장착 각도를 보정하여 다양한 시료 표면에서 정확한 데이터를 얻을 수 있습니다.
- 팁 높이 30 µm 깊거나 접근하기 어려운 시료 영역의 이미징이 가능합니다.
- 팁 측면각 22° 팁과 시료 간 컨볼루션을 최소화하여 형상을 더욱 정확하게 측정합니다.
- 팁 선단 반경 7 nm 고급 AFM 응용 분야에 신뢰할 수 있는 분해능을 제공합니다.