특징
- 10° 기울기 보정 플랫폼 캔틸레버
- 시료와 평행한 20 × 20 µm 평면 끝단
응용 분야
- 단일 세포 역학
- 세포 부착
- 마이크로스피어 접착
- 압력 제어 측정을 위한 균일한 각도 보정 접촉
- 세포 부착
사양
| Parameter | Unit | Nominal | Range |
|---|---|---|---|
| Frequency | kHz | 19.0 | 10-50 |
| Spring constant | N/m | 0.2 | 0.1-0.7 |
| Tip height Ht | µm | 5.0 | nan |
| Tip apex radius | nm | — | +/-5% |
| Tip side angle θ | ° | 180.0 | +/-0.5° |
| Tip-cantilever angle α | ° | 101.0 | +/-0.5° |
| Cantilever length Lc | µm | 400.0 | +/-1 |
| Cantilever width Wc | µm | 20.0 | +/-1 |
| Cantilever thickness Tc | µm | 2.5 | +/-0.15 |
| Cantilever backside coating | Au | ||
| Tip-side coating | Uncoated | ||
| Tip and cantilever material | p-doped Silicon 0.01-0.02 ohm-cm | ||
| Chip dimensions | mm | 3.4x1.6x0.4 | |
캔틸레버 및 팁 세부 정보
- 기울기 보정 평면 플랫폼 상용 AFM 프로브 홀더에 장착했을 때 접촉면이 시료와 평행하게 유지되도록 설계되었습니다.
- 20 × 20 µm 평면 힘 측정 및 콜로이드 프로브 응용을 위한 제어된 접촉 면적을 제공합니다.
- 샤프트 높이 5 µm 구조가 있거나 접근하기 어려운 시료를 측정할 수 있는 간격을 제공합니다.
- 안정적인 실리콘 캔틸레버 재현성 높은 기계적 특성과 명확한 플랫폼 형상을 결합합니다.