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PCP05_Si-Si_20, AFM cantilever, AFM probe (coating Si/Si, tip 20 µm, Vmicro)

特点

  • 10° 倾角补偿平台悬臂梁
  • 与样品平行的 20 × 20 µm 平端
  • 20 µm 长立柱

应用

  • 单细胞力学
  • 细胞附着
  • 微球粘接
  • 用于压力控制测量的均匀角度补偿接触
  • 细胞附着

PlatformCantilever0.05 Si-Si

300.00 € 300.00 €

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Order code: PCP05_Si-Si_20_GB10

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规格

3D schematic of Vmicro PCP05 Si-Si 20 AFM probe for platform cantilever AFM measurements
ParameterUnitNominalRange
FrequencykHz6.03-18
Spring constantN/m0.050.01-0.1
Tip height Htµm20.0nan
Tip apex radiusnm—+/-5%
Tip side angle θ°180.0+/-0.5°
Tip-cantilever angle α°101.0+/-0.5°
Cantilever length Lcµm400.0+/-1
Cantilever width Wcµm20.0+/-1
Cantilever thickness Tcµm1.6+/-0.15
Cantilever backside coatingUncoated
Tip-side coatingUncoated
Tip and cantilever materialp-doped Silicon 0.01-0.02 ohm-cm
Chip dimensionsmm3.4x1.6x0.4

悬臂梁和针尖详情

SEM full-view image of Vmicro PCP05 Si-Si 20 AFM probe showing complete probe geometry
SEM image of AFM platform tip with 10° tilted flat-end and 20x20 µm surface parallel to the sample, shaft length 20 µm.
  • 倾角补偿平端平台 安装在商用 AFM 探针夹具中时，可使接触面与样品保持平行。
  • 20 × 20 µm 平坦表面 为力测量和胶体探针应用提供可控的接触面积。
  • 立柱高度 20 µm 为结构化或难以接近的样品测量提供足够间隙。
  • 稳定的硅悬臂梁 将可重复的机械性能与明确的平台几何形状相结合。