LS0P1_Si-Si_30 | Lprobe life sciences AFM probe | Vmicro

LS0P1_Si-Si_30, Lprobe life sciences, AFM probe (coating Si/Si, tip 30 µm, Vmicro)

特點

適用於細胞成像的長探針
新型 MEMS 技術突破探針工程限制
- 錐角和探針-懸臂樑夾角可透過設計自由選擇
- 在 10° 探針夾具中保持對稱的探針
水中的擠壓膜阻尼可忽略：接近表面時頻率和 Q 值不會降低

應用

在液體或空氣中對細胞、細菌和組織成像
PeakForce Tapping^TM 模式
ScanAsyst^TM 模式
聚合物和複合材料的高解析度成像

規格

3D schematic of Vmicro LS0P1 Si-Si 30 AFM probe for biological and soft-sample AFM imaging

Parameter	Unit	Nominal	Range
Frequency	kHz	40.0	20-100
Spring constant	N/m	0.1	0.05-0.5
Tip height H_t	µm	30.0	15-50
Tip apex radius	nm	7.0	2-10
Tip side angle θ	°	22.0	+/-0.5°
Tip-cantilever angle α	°	112.0	+/-0.5°
Cantilever length L_c	µm	80.0	+/-1
Cantilever width W_c	µm	20.0	+/-1
Cantilever thickness T_c	µm	0.5	+/-0.15
Cantilever backside coating	Uncoated
Tip-side coating	Uncoated
Tip and cantilever material	p-doped Silicon 0.01-0.02 ohm-cm
Chip dimensions	mm	3.4x1.6x0.4

懸臂樑與探針詳情

SEM full-view image of Vmicro LS0P1 Si-Si 30 AFM probe showing complete probe geometry

傾斜探針設計 補償 AFM 探頭的安裝角度，確保在各種樣品表面上獲得準確資料。
探針高度 30 µm 可對更深或難以接近的樣品區域進行成像。
探針側壁角 22° 最大限度減少探針與樣品的卷積效應，從而實現更準確的形貌測量。
探針尖端半徑 7 nm 為先進 AFM 應用提供可靠的解析度。