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PC0P2_Si-Si_20, AFM cantilever, AFM probe (coating Si/Si, tip 20 µm, Vmicro)

特點

  • 10° 傾角補償平台懸臂樑
  • 與樣品平行的 20 × 20 µm 平端
  • 20 µm 長立柱

應用

  • 單細胞力學
  • 細胞附著
  • 微球黏接
  • 用於壓力控制測量的均勻角度補償接觸
  • 細胞附著

PlatformCantilever0.2 Si-Si

300.00 € 300.00 €

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Order code: PC0P2_Si-Si_20_GB10

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規格

3D schematic of Vmicro PC0P2 Si-Si 20 AFM probe for platform cantilever AFM measurements
ParameterUnitNominalRange
FrequencykHz13.05-30
Spring constantN/m0.20.1-0.7
Tip height Htµm20.0nan
Tip apex radiusnm—+/-5%
Tip side angle θ°180.0+/-0.5°
Tip-cantilever angle α°101.0+/-0.5°
Cantilever length Lcµm400.0+/-1
Cantilever width Wcµm20.0+/-1
Cantilever thickness Tcµm2.5+/-0.15
Cantilever backside coatingUncoated
Tip-side coatingUncoated
Tip and cantilever materialp-doped Silicon 0.01-0.02 ohm-cm
Chip dimensionsmm3.4x1.6x0.4

懸臂樑與探針詳情

SEM full-view image of Vmicro PC0P2 Si-Si 20 AFM probe showing complete probe geometry
SEM image of AFM platform tip with 10° tilted flat-end and 20x20 µm surface parallel to the sample, shaft length 20 µm.
  • 傾角補償平端平台 安裝在商用 AFM 探針夾具中時，可使接觸面與樣品保持平行。
  • 20 × 20 µm 平坦表面 為力測量和膠體探針應用提供可控的接觸面積。
  • 立柱高度 20 µm 為結構化或難以接近的樣品測量提供足夠間隙。
  • 穩定的矽懸臂樑 將可重複的機械性能與明確的平台幾何形狀相結合。