NF020_A2-A2_100, Lprobe nano-FTIR, AFM probe (coating A2/A2, tip 100 µm, Vmicro)

特長

新しい MEMS 技術
記録的な探針高さ 100 µm：AFM の測定能力を拡張
角度設計を施した高プロファイル探針
探針の視認性により正確なアプローチを実現
安全に取り扱える垂直側壁チップ

用途

中赤外・遠赤外領域における高感度 s-SNOM 分光
中赤外・遠赤外領域での s-SNOM イメージング
安定したイメージングのためのタッピングモード探針仕様

XLprobeTera_spectra+20 A2-A2

1,250.00 €

QuantityPrice

10 AFM probes 1 metal box of 10 probes unit price 125.00 € 1,250.00 €

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- MB10

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Order code: NF020_A2-A2_100_MB10

仕様

3D schematic of Vmicro NF020 A2-A2 100 AFM probe for s-SNOM THz near-field imaging and spectroscopy

Parameter	Unit	Nominal	Range
Frequency	kHz	110.0	80-150
Spring constant	N/m	20.0	8-30
Tip height H_t	µm	100.0	80-120
Tip apex radius	nm	70.0	35-75
Tip side angle θ	°	15.0	+/-0.5°
Tip-cantilever angle α	°	118.0	+/-0.5°
Cantilever length L_c	µm	115.0	+/-1
Cantilever width W_c	µm	40.0	+/-1
Cantilever thickness T_c	µm	2.8	+/-0.15
Cantilever backside coating	A2
Tip-side coating	A2
Tip and cantilever material	p-doped Silicon 0.01-0.02 ohm-cm
Chip dimensions	mm	3.4x1.6x0.4

カンチレバーと探針の詳細

SEM full-view image of Vmicro NF020 A2-A2 100 AFM probe showing complete probe geometry

$s-SNOM AFM tip image with two panels: left 30 µm tip profile, right apex zoom (75 nm).$

傾斜探針設計 AFM ヘッドの取り付け角度を補正し、さまざまな試料表面で正確なデータ取得を可能にします。
探針高さ 30 µm 深い領域やアクセスしにくい試料領域のイメージングを可能にします。
探針側壁角 15° 探針と試料のコンボリューションを抑え、より正確な形状測定を実現します。
探針先端半径 75 nm 高度な AFM アプリケーションに信頼性の高い分解能を提供します。