NF020_A2-A2_100, Lprobe nano-FTIR, AFM probe (coating A2/A2, tip 100 µm, Vmicro)

특징

새로운 MEMS 기술
기록적인 100 µm 팁 높이: AFM 측정 성능 확장
각도 엔지니어링이 적용된 고프로파일 팁
팁 가시성으로 정확한 접근 가능
안전한 취급을 위한 수직 측벽 칩

응용 분야

중적외선 및 원적외선 영역의 향상된 s-SNOM 분광
중적외선 및 원적외선 영역의 s-SNOM 이미징
안정적인 이미징을 위한 태핑 모드 프로브 사양

XLprobeTera_spectra+20 A2-A2

1,250.00 €

QuantityPrice

10 AFM probes 1 metal box of 10 probes unit price 125.00 € 1,250.00 €

Packaging
- MB10

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Order code: NF020_A2-A2_100_MB10

사양

3D schematic of Vmicro NF020 A2-A2 100 AFM probe for s-SNOM THz near-field imaging and spectroscopy

Parameter	Unit	Nominal	Range
Frequency	kHz	110.0	80-150
Spring constant	N/m	20.0	8-30
Tip height H_t	µm	100.0	80-120
Tip apex radius	nm	70.0	35-75
Tip side angle θ	°	15.0	+/-0.5°
Tip-cantilever angle α	°	118.0	+/-0.5°
Cantilever length L_c	µm	115.0	+/-1
Cantilever width W_c	µm	40.0	+/-1
Cantilever thickness T_c	µm	2.8	+/-0.15
Cantilever backside coating	A2
Tip-side coating	A2
Tip and cantilever material	p-doped Silicon 0.01-0.02 ohm-cm
Chip dimensions	mm	3.4x1.6x0.4

캔틸레버 및 팁 세부 정보

SEM full-view image of Vmicro NF020 A2-A2 100 AFM probe showing complete probe geometry

$s-SNOM AFM tip image with two panels: left 30 µm tip profile, right apex zoom (75 nm).$

기울어진 팁 설계 AFM 헤드의 장착 각도를 보정하여 다양한 시료 표면에서 정확한 데이터를 얻을 수 있습니다.
팁 높이 30 µm 깊거나 접근하기 어려운 시료 영역의 이미징이 가능합니다.
팁 측면각 15° 팁과 시료 간 컨볼루션을 최소화하여 형상을 더욱 정확하게 측정합니다.
팁 선단 반경 75 nm 고급 AFM 응용 분야에 신뢰할 수 있는 분해능을 제공합니다.